书名：宽禁带功率半导体器件特性测试
作者：［美］王飞（Fred Wang）［美］张哲字（Zheyu Zhang） ［美］爱德华·A. 琼斯（Edward A. Jones）
ISBN：978-7-111-80585-4
出版社：机械工业出版社
出版日期：2026.05.19
现代电力电子变换器的核心在于功率半导体开关器件。以碳化硅（SiC）和氮化镓（GaN）为代表的宽禁带功率半导体器件的出现，有望使采用这些新型器件的电力电子变换器比采用传统硅基器件实现更高的效率、更小的体积、更小的质量及更低的成本。然而，宽禁带功率半导体器件也为变换器设计带来了新的挑战，由于其更快的开关速度和对保护电路更严格的要求，需要进行更详细的特性测试。
本书通过实例，全面介绍了宽禁带功率半导体器件的特性测试方法。在引言之后，该书涵盖了以下内容：脉冲静态特性测试、结电容特性测试、动态特性测试的基本原理、动态特性测试栅极驱动单元设计、布局设计及寄生参数优化、双脉冲测试保护设计、动态特性的测量与数据处理、串扰分析与抑制、三相系统的影响，以及拓扑设计注意事项。
本书适合高校电气工程、电子科学与技术、微电子科学与工程等专业的师生作为专业参考书，同时也可供从事功率半导体器件测试的工程技术人员，以及新能源、电力电子等领域的应用工程师参考使用。