[PDF电子书下载]数字系统测试和可测试性设计高清PDF下载_（美）纳瓦比著_北京：机械工业出版社 , 2015.06

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数字系统测试和可测试性设计高清PDF下载_（美）纳瓦比著_北京：机械工业出版社 , 2015.06_P370.pdf

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【作者】（美）纳瓦比著
【丛书名】电子与嵌入式系统设计译丛
【形态项】 370
【出版项】北京：机械工业出版社 , 2015.06
【ISBN号】978-7-111-50154-1
【中图法分类号】TP271
【原书定价】85.00
【主题词】数字系统-系统测试
【参考文献格式】（美）纳瓦比著. 数字系统测试和可测试性设计. 北京：机械工业出版社, 2015.06.
内容提要:
这本书论述了数字系统测试和可测性设计，它通过数字电路设计实例和方法阐明了测试和可测试性的概念。本书还采用Verilog模型和Verilog测试平台实现并解释故障仿真和测试生成算法。本书的最大特点是广泛地使用Verilog和VerilogPLI编写测试应用，这把本书与其他讨论测试和可测试性的书籍区分开来。

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