集成电路测试原理_戴志坚、王厚军_成都电子科技大学出版社,2023.04
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书名:集成电路测试原理
作者:戴志坚、王厚军
ISBN:978-7-5770-0163-0
出版社:成都电子科技大学出版社
出版日期:2023.04
本书针对目前国内缺乏集成电路测试的基础课程教材而专门编写,适用于集成电路测试专业本科生或专科生使用,要求读者具有数字电路、模拟电路、信号与系统以及部分数字信号处理和工程数学方面的相关知识。 本书共分六章。第一章是集成电路测试的总体概述,介绍了集成电路测试的意义和作用,集成电路测试过程和基本原理,集成电路发展对测试提出的最新需求等。 第二章介绍了基本直流参数的测量方法,包括连接性、电源电流、漏电流、偏移、增益、电源抑制比和共模抑制比的测量方法;介绍了模拟集成电路的主要直流参数及其测试方法,详细介绍了运用辅助电路测试集成运算放大器常用参数的方法;介绍了电源集成电路纹波和噪声等参数的测试,介绍了数字集成电路的直流参数测试方法。 第三章概述了数字集成电路测试,介绍了数字集成电路测试故障模型;介绍了数字集成电路组合逻辑测试和时序逻辑测试;介绍了数字集成电路可编程逻辑器件测试、存储器测试及内建自测试。 第四章概述了混合信号集成电路测试技术、转换器测试基础;混合信号的时域与频域测量,讨论了采样原理和基于数字信号处理的转换器测试,介绍了相干采样技术、DFT和FFT技术;介绍了DAC静态参数及其测试方法,DAC动态参数及其测试方法,ADC静态参数及其测试方法,ADC动态参数及其测试方法。 第五章介绍了ATE系统及测试子系统的数字测试模块、模拟测试模块、DPS测量模块、时间测试模块等;介绍了DIB设计准则、信号完整性、电源完整性等。 第六章介绍了集成电路自动测试系统通用的软件环境和测试语言,以一款模数转换器为例讲述了提取集成电路测试内容和制订测试方案的一般流程;介绍了测试程序的组成及其开发流程,并详细介绍了一款数字电路测试应用开发实例。
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