碳化硅功率器件:特性、测试和应用技术 第2版 _高远,张岩_机械工业出版社,2025.04.18
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书名:碳化硅功率器件:特性、测试和应用技术 第2版
作者:高远,张岩
ISBN:978-7-111-77893-6
出版社:机械工业出版社
出版日期:2025.04.18
本书综合了近几年工业界的最新进展和学术界的最新研究成果,详细介绍并讨论了碳化硅功率器件的基本原理、发展现状与趋势、特性及测试方法、应用技术和各应用领域的方案。本书共分为12章,内容涵盖功率半导体器件基础,SiC二极管的主要特性,SiC MOSFET的主要特性,SiC器件与Si器件特性对比,双脉冲测试技术,SiC器件的测试、分析和评估技术,高di/dt影响与应对——关断电压过冲,高dv/dt的影响与应对——串扰,高dv/dt影响与应对——共模电流,共源极电感影响与应对,驱动电路,SiC器件的主要应用。
本书面向电力电子、新能源技术、功率半导体芯片和封装等领域的广大工程技术人员和科研工作者,可满足从事功率半导体器件设计、封装、测试、应用、生产的专业人士的知识和技术要求。
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